产品描述：该产品采用双光束激光粒度仪专利（专利号：ZL.2007 2 0025702. 0），不仅克服了样品池的光学干扰，还扩大了测试角度，开拓了宽分布颗粒测试的新领域。 产品优势 1-大量程/双光束测试 采用双激光双光束专利技术（专利号：ZL.2007 2 0025702. 0），测试上限1000微米，测试下限0.01微米。 2-湿法颗粒循环装置/光路自动对中系统 可保证颗粒一直处于动态分散状态，大颗粒不沉淀，小颗粒不团聚，粒度分析不受任何函数影响，能真实反应颗粒状态，为测试获得准确的数据提供了保障。 主要特征：该产品采用双光束激光粒度仪专利（专利号：ZL.2007 2 0025702. 0），不仅克服了样品池的光学干扰，还扩大了测试角度，开拓了宽分布颗粒测试的新领域。 原理： 详情咨询 产品优势： 详情咨询